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Buscaste por: Empezar de nuevo Autor Binczyk, Ewa; Stepien, Tomasz Eliminar filtro Autor: Binczyk, Ewa; Stepien, Tomasz Colección Peter Lang Eliminar filtro Colección: Peter Lang Fecha de publicación 2014 Eliminar filtro Fecha de publicación: 2014 Materia Philosophy Eliminar filtro Materia: Philosophy Materia Methodology Eliminar filtro Materia: Methodology

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1. Modeling Technoscience and Nanotechnology Assessment. Perspectives and Dilemmas

Binczyk, Ewa; Stepien, Tomasz

Peter Lang

E-ISBN: 9783653043716