Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices

Título:: Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices
Autor:: van der Heide
Materia:: Analytical Chemistry
Editor:: Wiley
Descripción:: 385 p.
Identificadores:: E-ISBN: 9781118480489 ISBN: 9781118916780
Colección:: Wiley