Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy
- Título:
- Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy
- Materia:
- Electrical & Electronics Engineering
- Editor:
- Wiley-VCH
- Descripción:
- 194 p.
- Identificadores:
- E-ISBN: 9783527408344 ISBN: 9783527632183
- Colección:
- Wiley