Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy

Título:
Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy
Autor:
Garc¡a
Materia:
Electrical & Electronics Engineering
Editor:
Wiley-VCH
Descripción:
194 p.
Identificadores:
E-ISBN: 9783527408344 ISBN: 9783527632183
Colección:
Wiley