Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

Título:
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Autor:
Birkholz
Materia:
Materials Science
Editor:
Wiley-VCH
Descripción:
379 p.
Identificadores:
E-ISBN: 9783527310524 ISBN: 9783527607594
Colección:
Wiley