Conductive Atomic Force Microscopy - Applicationsin Nanomaterials
- Título:
- Conductive Atomic Force Microscopy - Applicationsin Nanomaterials
- Materia:
- Analytical Chemistry
- Editor:
- Wiley-VCH
- Descripción:
- 385 p.
- Identificadores:
- E-ISBN: 9783527340910 ISBN: 9783527699773
- Colección:
- Wiley