Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
- Título:
- Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
- Materia:
- Analytical Chemistry
- Editor:
- Wiley
- Descripción:
- 297 p.
- Identificadores:
- E-ISBN: 9781118456095 ISBN: 9781118696545
- Colección:
- Wiley